干漆膜測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。用于對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。
干漆膜測(cè)厚儀儀器校滿度的校正:
1、根據(jù)要測(cè)量的涂層厚度，選擇適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)膜片，進(jìn)行滿度校準(zhǔn)。
2、先將標(biāo)準(zhǔn)膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測(cè)量體上）。
3、再將測(cè)量探頭壓在標(biāo)準(zhǔn)膜片上，測(cè)量值就顯示在顯示器上，若測(cè)量值與標(biāo)準(zhǔn)膜片不同，測(cè)量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時(shí)，測(cè)量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無(wú)效。
4、為保證校滿度的準(zhǔn)確性，可通過多次測(cè)同一標(biāo)準(zhǔn)膜片來驗(yàn)證。
干漆膜測(cè)厚儀儀器使用注意：
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無(wú)損檢測(cè)資源網(wǎng)如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
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