概述:
蓄熱系數(shù)測(cè)定儀采用瞬態(tài)平面熱源法,基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù),用Hot Disk探頭。該儀器的優(yōu)點(diǎn)有:
1、直接測(cè)量熱傳播,可以節(jié)約大量的時(shí)間;
2、不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響;
3、無(wú)須特別的樣品制備,對(duì)固態(tài)材料只需有一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面。不同類型的材料采用不同的測(cè)試方案及計(jì)算數(shù)學(xué)模型,具有測(cè)量速度快、適用范圍寬及能夠成功避免在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中自然對(duì)流的影響等優(yōu)點(diǎn)。實(shí)際測(cè)試材料范圍廣,導(dǎo)熱系數(shù)范圍寬,試樣處理簡(jiǎn)單,測(cè)試速度快的優(yōu)點(diǎn),是目前比較流行的測(cè)試方法。設(shè)備參考標(biāo)準(zhǔn):ISO 22007-2:2008, GB/T32064-2015 。
4、測(cè)試材料: 金屬、合金、石墨、導(dǎo)熱硅脂、硅膠、硅橡膠、陶瓷、巖土、巖石、聚合物、紙、織物、泡沫塑料、混凝土、復(fù)合板材、紙蜂窩板等固體、粉末、液體、糊狀、涂層、薄膜、保溫材料、絕熱材料、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)(熱擴(kuò)散系數(shù))和比熱容、蓄熱系數(shù)及熱阻。
蓄熱系數(shù)測(cè)定儀主要技術(shù)參數(shù):
1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍:0.001~500 w/(m.k),分辯率為 0.0001w/(m.k);
2、熱擴(kuò)散系數(shù)(導(dǎo)溫系數(shù))范圍:0.1~100 m2/s;
3、蓄熱系數(shù)范圍:0.1~30 w/(m2.k);
4、比熱容范圍:0.1~5 kJ/(kg.℃);
5、熱阻范圍:0.5~0.000005 mm2.k/w;
6、溫度測(cè)量精度:≤0.001℃;
7、測(cè)量相對(duì)誤差:≤3%;
8、重復(fù)性誤差:≤ 3%;
9、測(cè)試時(shí)間:1~120 秒。
10、試樣測(cè)試環(huán)境溫度范圍:-40~150℃;標(biāo)準(zhǔn)配置:室溫。(可根據(jù)客戶要求選配各種高、低溫度段控制箱(-40~150℃)或真空狀態(tài)下的測(cè)試狀態(tài),合同約定,費(fèi)用另計(jì))
11、探頭配置:標(biāo)準(zhǔn)配置:直徑Φ15mm。(可根據(jù)客戶要求選配探頭直徑:Φ30mm, Φ15mm,Φ7.5mm或同時(shí)配置,合同約定,費(fèi)用另計(jì))
12、測(cè)試試樣要求:
(1)固體塊狀或圓形、方形、異形樣品,無(wú)須特別制備,只需一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面,配有專用試樣裝夾裝置。
(2)對(duì)粉狀、糊狀、液狀物質(zhì)無(wú)特殊要求,配有專用試樣測(cè)試盒。
(3)所測(cè)較薄材料,專用測(cè)試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測(cè)試。
(4)高導(dǎo)與絕熱材料,專用測(cè)試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測(cè)試。
13、采用全自動(dòng)測(cè)試軟件,快速準(zhǔn)確對(duì)樣品進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程參數(shù)分析和報(bào)告輸出。
14、電源:AC 220V±10%,50/60 Hz, 整機(jī)功率:<500w;